Fysik AV, Materialkaraktärisering, 6 hp
Observera att litteraturen i kursplanen kan ändras/revideras fram till:
• 1 juni för en kurs som startar på höstterminen
• 15 november för en kurs som startar på vårterminen
• 1 april för en kurs som startar på sommaren
Skriv ut eller spara kursplanen som PDF
Du kan enkelt skriva ut en kursplan direkt från webbsidan. Använd kortkommandot ctrl+p (Windows) eller command+p (Mac). I nästa steg väljer du om du vill skriva ut eller spara kursplanen som PDF.
För en nedlagd kurs kan eventuell information om avvecklingsperiod hittas under rubriken "Övergångsregel" i senaste versionen av kursplanen.
Kursplan för:
Fysik AV, Materialkaraktärisering, 6 hp
Physics MA, Materials Characterization, 6 credits
Allmänna data om kursen
- Kurskod: FY020A
- Ämne huvudområde: Fysik
- Nivå: Avancerad
- Högskolepoäng: 6
- Fördjupning vs. Examen: A1N - Kursen ligger på avancerad nivå och har endast kurs(er) på grundnivå som förkunskapskrav.
- Utbildningsområde: Naturvetenskap 100%
- Ansvarig fakultet: Fakulteten för naturvetenskap, teknik och medier
- Ansvarig institution: Ingenjörsvetenskap, matematik och ämnesdidaktik
- Fastställd: 2017-08-16
- Senast ändrad: 2023-01-13
- Giltig fr.o.m: 2023-07-01
Syfte
Ge fördjupade teoretiska och praktiska kunskaper om mikroskopi, diffraktion, spektroskopi och termisk analys och om hur dessa metoder kan användas för att studera nanomaterial, mikrostrukturer och ytor.
Lärandemål
Den studerande ska vid avslutad kurs kunna:
- redogöra för de fysikaliska principerna för ett antal karaktäriseringsmetoder såsom ljusmikroskopi, svepelektronmikroskopi, transmissionselektronmikroskopi, röntgendiffraktion, sveptunnel- och atomkraftmikroskopi, röntgenspektroskopi, elektronspektroskopi, jonmasspektroskopi, vibrationsspektroskopi och termisk analys, samt vilken information dessa metoder ger;
- genomföra mätningar inom elektronmikroskopi, diffraktion, spektroskopi och termisk analys och kunna tolka erhållna mätdata.
Innehåll
De teoretiska grunderna för ljusmikroskopi, svepelektronmikroskopi, transmissionselektronmikroskopi, röntgendiffraktion, sveptunnel- och atomkraftmikroskopi, röntgenspektroskopi, elektronspektroskopi, jonmasspektroskopi, vibrationsspektroskopi och termisk analys. Praktiska mätningar och analys av mätdata från elektronmikroskopi, diffraktion, spektroskopi och termisk analys.
Behörighet
Kandidatexamensarbete, 15 hp, i fysik, teknik fysik, kemiteknik eller motsvarande.
Urvalsregler
Urval sker i enlighet med Högskoleförordningen och den lokala antagningsordningen.
Undervisning
Undervisningen bedrivs i form av ett eller flera av föreläsningar, videoföreläsningar, seminarier eller handledningsträffar, samt laborationer. Undervisningen kan komma att helt eller delvis ges på engelska.
Examination
L100: Laboration, 2 hp
Betygsskala: Underkänd (U) eller Godkänd (G)
T100: Skriftlig tentamen, 4 hp
Betygsskala: På kursen ges något av betygen A, B, C, D, E, Fx och F. A - E är Godkänt, Fx och F är underkänt.
För att få ett godkänt slutbetyg på kursen ska båda delmomenten ovan vara godkända.
Betygskriterier för ämnet finns på www.miun.se/betygskriterier.
Om student har ett besked från samordnaren vid Mittuniversitetet om pedagogiskt stöd vid funktionsnedsättning, har examinatorn rätt att ge anpassad examination för studenten.
Begränsning av examination
Studenter registrerade på denna version av kursplan har rätt att examineras 3 gånger inom loppet av 1 år enligt angivna examinationsformer. Därefter gäller examinationsform enligt senast gällande version av kursplan.
Betygsskala
På kursen ges något av betygen A, B, C, D, E, Fx och F. A - E är Godkänt, Fx och F är underkänt.
Litteratur
Obligatorisk litteratur
- Författare/red: Yang Leng
- Titel: Materials Characterization, Introduction to microscopic and spectroscopic methods
- Förlag: John Wiley & Sons Ltd
Utdelat material tillkommer.
Kolla om litteraturen finns på biblioteket