Atomkraftsmikroskop (AFM)

Atomkraftsmikroskopi (AFM) använder en extremt fin nål för att "känna av" ytor på atomnivå och skapa högupplösta bilder av ett materials topografi. Tekniken mäter krafter mellan nålen och provets atomer, vilket ger information om ytegenskaper som hårdhet eller friktion.

Inom materialvetenskap används AFM för att studera nanostrukturer, såsom nanopartiklar eller ytor på halvledare, för att optimera deras egenskaper i applikationer som solceller eller katalysatorer. AFM är ovärderligt för att förstå material på nanoskala, vilket är avgörande för utvecklingen av nya material inom elektronik och nanoteknik.

Vårt instrument är även fullt utrustat med elektrisk karakteriseringsförmåga utöver topografisk mätning.