Svepelektronmikroskop (SEM)

Ett svepelektronmikroskop (SEM) använder en elektronstråle för att skapa detaljerade, högupplösta bilder av materialytor. Strålen skannar över provet och de reflekterade signalerna avslöjar ytans struktur och sammansättning.

Inom materialvetenskap är SEM avgörande för att analysera metallers mikrostruktur, frakturer i material eller ytor på kompositer.

Tekniken används för att undersöka defekter i material, som sprickor i stål eller ojämnheter i keramer, vilket är viktigt för att förbättra hållbarhet och prestanda i konstruktioner eller elektronikprodukter.