Fysik AV, Materialkaraktärisering, 6 hp
Kursen ger dig fördjupade teoretiska och praktiska kunskaper om mikroskopi, diffraktion, spektroskopi och termisk analys och om hur dessa metoder kan användas för att studera nanomaterial, mikrostrukturer och ytor.
Behörighet
Kandidatexamensarbete, 15 hp, i fysik, teknik fysik, kemiteknik eller motsvarande.
Urval
Urvalet grundas på antalet avklarade högskolepoäng som avklarats senast sista anmälningsdag, minst 30 och max 285 högskolepoäng